在均匀形核过程中，当过冷度过小时，形核率N主要受（）控制，随着过冷度增加，临界晶核半径减小；当过冷度继续增大，

单项选择题

在均匀形核过程中，当过冷度过小时，形核率N主要受（）控制，随着过冷度增加，临界晶核半径减小；当过冷度继续增大，尽管临界晶核半径也在减小，但由于原子在较低温度下扩散变得困难，此时形核率N主要受（）控制。

A.形核功；原子扩散几率因子
B.形核功因子；原子扩散几率因子
C.形核功；原子越过液固相界面的扩散激活能
D.形核功因子；原子越过液固相界面的扩散激活能