PLL鉴相法测量相位噪声时，可以采用双通道互相关技术来改善测试系统的低噪声，提高测试系统的灵敏度，具体表现在下

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PLL鉴相法测量相位噪声时，可以采用双通道互相关技术来改善测试系统的低噪声，提高测试系统的灵敏度，具体表现在下列哪个（些）方面（）

A.超越了参考源底噪的限制
B.改善了偏离载波中，远端的底噪声
C.减少了输入功率对底噪声的影响
D.以上都是

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