材料分析测试技术考试题库_材料分析测试技术考试试题_在线考试中心

【单项选择题】（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。

【判断题】热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可...

【判断题】热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

【判断题】在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定...

【判断题】热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大...

【单项选择题】差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水...

【判断题】电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

【判断题】利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种...

【单项选择题】在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素...

【判断题】利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，...

【单项选择题】在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

【多项选择题】电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

【单项选择题】扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗...

【判断题】被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本...

【单项选择题】与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描...

【判断题】扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子...

【单项选择题】电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随...

【多项选择题】根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

【多项选择题】简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

【单项选择题】透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

【判断题】孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

【判断题】每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射...

【多项选择题】晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

【判断题】当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条...

【单项选择题】 X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于...

【多项选择题】关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

【判断题】在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。

【单项选择题】粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

【判断题】 1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

【判断题】拉曼光谱分析时，1500cm-1以上的谱带必定是一个基团的频...

【判断题】扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

【多项选择题】红外光分为（）。

【多项选择题】拉曼光谱分析仪在使用过程中，正确的实验操作有（）。

【多项选择题】关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

【多项选择题】变形振动分为（）。

【单项选择题】在红外光谱分析中，基本振动区是指（）。

【单项选择题】下列哪个是红外光谱的分子振动模型（）。

【单项选择题】红外光谱分析中，不可用于固体试样的制样方法有（）。

【单项选择题】 XPS的基本原理是（）。

【单项选择题】利用XPS进行表面分析时，无法实现的是（）。

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